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簡(jiǎn)要描述:SS-LCL-4 光學(xué)非線性測(cè)量?jī)x主要采用激光Z掃描技術(shù),同時(shí)考慮飽和光譜測(cè)量方法,光限制測(cè)量方法及其光模式傳輸測(cè)量等技術(shù),綜合考慮設(shè)計(jì)而成,其光路簡(jiǎn)單(采用單光束),測(cè)量靈敏度高,可同時(shí)測(cè)量樣品的非線性折射率和非線性吸收系數(shù)及光斑信息和光學(xué)限制效應(yīng)等。
SS-LCL-4 光學(xué)非線性測(cè)量?jī)x
儀器簡(jiǎn)介:
光學(xué)非線性測(cè)量?jī)x,主要采用激光Z掃描技術(shù),同時(shí)考慮飽和光譜測(cè)量方法,光限制測(cè)量方法及其光模式傳輸測(cè)量等技術(shù),綜合考慮設(shè)計(jì)而成,其光路簡(jiǎn)單(采用單光束),測(cè)量靈敏度高,可同時(shí)測(cè)量樣品的非線性折射率和非線性吸收系數(shù)及光斑信息和光學(xué)限制效應(yīng)等。本儀器采用多種光信號(hào)測(cè)量探測(cè)器(光電倍增管、硅光電池、CCD等),可用脈沖激光、連續(xù)激光等作為光源,光電信號(hào)既可用儀器本身電箱測(cè)量,還可以外接積分器和鎖相放大器等,實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)(Windows 多檔畫面)自動(dòng)控制和測(cè)試,并配有多種附件,適用于液體、固體樣品的測(cè)量。儀器結(jié)構(gòu)新穎、價(jià)格適中、功能完善,適合各高等院校教學(xué)和科研的需求.
實(shí)驗(yàn)原理和內(nèi)容:
1、學(xué)習(xí)和掌握激光Z掃描技術(shù)
2、直接測(cè)量開(kāi)孔、閉孔及光斑信息、同時(shí)測(cè)量非線性折射性折射率和非線性吸收系數(shù)
3、利用多種光信號(hào)探測(cè)器和軟件系統(tǒng)以及附件,測(cè)量液體、固體樣品。
主要配置和參數(shù):
1、Z掃描范圍: -50mm~+50mm
2、采樣間隔 :0.1 mm,0.2mm,0.5mm,1mm ,2mm,5mm
3、接 收 器: 光電倍增管 CR114,SP≥300,IDB, ≤5,R/W≥200、硅光電池: 、CCD
4、橫坐標(biāo)擴(kuò)展 :任選;縱坐標(biāo)擴(kuò)展:任選
5、測(cè)量模式 :二 種 (透過(guò)率、能量)
6、掃描速度 :三 檔 (快、中 、慢)
7、掃描方式 :連續(xù)、重復(fù)、時(shí)間掃描
8、電 源 :AC220V 50Hz
9、數(shù)據(jù)處理:光譜背景基線記憶、光譜數(shù)據(jù)平滑運(yùn)算、光譜數(shù)據(jù)累加運(yùn)算、光譜數(shù)據(jù)四則運(yùn)算、光譜數(shù)據(jù)微分運(yùn)算。
10、設(shè)備尺寸:585*268*185mm
11、光學(xué)元件:分束器5:5、透鏡F=150、F=100、F=50、F=15、F=225、平面反射鏡:鍍膜30*5。
12、氦氖激光器:帶布魯斯特角,尺寸270mm;功率:≥1.2mw。
13、光學(xué)元件BK7 A精密退火材料,焦距±2%,直徑-0.2mm,中心偏差3′,光圈1-5;局部誤差為0.2-0.5,面粗糙度60/40(Scratch/Dig),氟化鎂增透膜鍍膜
14、精密機(jī)械調(diào)整架:角度精度±4′,分辨率0.005mm,調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)保證等雙軸等高,橫向偏差1′,縱向偏差1′